5. TC4x RAM ECC 可纠正位错误
AURIXTM 片内易失性存储单元 RAM 可纠正位错误在运行中被读取时会被 ECC 机制实时纠正,所以对这类可纠正位错误的硬件故障,应用上由于可以保证读取的 RAM 内容是正确的,不存在引起违反系统安全目标的的风险,片内 RAM 可纠正位错误的故障不需要用户对其做任何响应,因此 TC4x 中取消了 RAM 可纠正位错误的地址缓存设计,不再将其列为安全相关的故障。TC3x 中没有强调这一点,用户很容易在设计中忽视这一点,导致对 RAM 可纠正位错误故障的过度安全响应动作频发。
6. TC4x MBIST 易失性存储单元自检
AURIXTM TC4x 片内易失性存储单元 RAM 的集成测试模块支持对 RAM 做 MBIST (Memory Build-In-Self-Test)自检。TC3x MBIST 只支持 Non-destructive Inversion Test (NDIT),而 TC4x MBIST 升级到支持 Destructive Test。Destructive Test 有更高的诊断覆盖率,可以达到 ASIL-D 级别。此外,TC4x 支持 Key-On / Key-Off 的 MBIST 测试。在 TC4x SafeTlib 软件中包含了 Key-on / Key-off MBIST 测试。
7. TC4x LBIST 逻辑电路自检
ARUIXTM TC4x LBIST 支持两种操作模式,Key-on LBIST 和 Key-off LBIST。在 TC4 内部把 LBIST 进行了分层设计,分成多个测试域。Key-on LBIST 只测试片内安全相关的数字逻辑电路,可以在 5~6ms 之内完成,可以达到 90% Stuck-at 测试覆盖率。Key-off LBIST 测试芯片内部完整的数字逻辑电路,多层测试域依次完成测试,每层测试域测试在 50ms 之内,可以达到 90% Stuck-at 测试覆盖率。在 TC4x SafeTlib 软件中包含了 Key-on LBIST 测试。
8. TC4x Clock Monitoring 时钟监控
ARUIXTM TC4x 时钟系统中保留了如 TC3x 一样的 OSC watchdog Monitor、PLL loss of lock detection Monitor、Clock alive Monitor 三种硬件安全机制。此外,TC4x 中加入了针对片内产生的各个时钟的 Plausibility 合理性检查的硬件安全机制,这一安全机制在 TC3x 中是需要用户软件来实现的,TC4x 这些增强的硬件安全机制简化了用户对时钟安全的软件设计。
9. TC4x Power Monitoring 电压监控
AURIXTM TC4x 同 TC3x 一样有一级欠压监控和二级欠压过压监控,不同于 TC3x,TC4x 中只有二级欠压过压监控被列入片内电源监控安全机制中,一级欠压监控不再归为安全相关。理由是,当电压在 TC4x 工作电压范围之内到达一级欠压监控电压阈值之前,二级欠压和过压监控即可以报出 Alarm,SMU 可以对该 Alarm 执行合适的安全响应动作。
10. TC4x Over-temperature 过温监控
AURIXTM TC4x 同 TC3x 一样有冗余的温度检测模块 DTS,不同于 TC3x 的 2 个,TC4x 中增加到了 6 个。而且在 TC4x 中只有过温才是安全相关的,因为 MCU 的任何内部故障都不会使其自行降温,故温度过低不是 MCU 故障导致的失效模式,所以只有芯片过温才被纳入安全考虑范围。DTS 会每隔 2ms 持续测温,如芯片过温即报出 Alarm。
11. Safe Digital Actuation 安全数字输出
针对安全数字输出的设计中,通常是对一个 Mission Channel 输出增加一个 Monitoring Channel 输入返回到 AURIXTM 进行监控,通过比较两个信号来确保 AURIXTM 数字输出如预期,以达到 ASIL-D 的安全数字输出。在 TC3x 中,这种比较通常引入了一个 IOM (Input Output Monitor) 硬件模块来完成。在 TC4x 中,这个硬件模块已经去掉,对于 Mission Channel 输出信号和 Monitoring Channel 回读信号的比较,通常由信号发生单元同时也是信号捕获单元的硬件模块如 GTM/eGTM 即可以实现,对用户来说简化了安全数字输出的设计。